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2025

7-21

便攜式合金分析儀的核心技術以X射線熒光光譜（XRF）與激光誘導擊穿光譜（LIBS）為主，二者在原理、應用場景及性能上存在顯著差異。XRF技術基于元素特征熒光效應，通過X射線管發射高能X射線激發樣品原子內層電子，外層電子躍遷填補空位時釋放特定能量的二次X射線（熒光）。探測器捕獲熒光能量后，與內置數據庫比對實現元素定性定量分析。該技術優勢在于無損檢測，無需樣品預處理，檢測范圍覆蓋鈦、釩等21種元素，精度達0.03%-0.5%。例如，奧林巴斯Axon系列采用硅漂移探測器（SDD）與...

2025

7-16

FIB雙束電鏡在集成電路失效分析中的應用

FIB雙束電鏡是一種集成了聚焦離子束（FIB）和掃描電子顯微鏡（SEM）技術的復合型儀器。該儀器在集成電路（IC）失效分析中具有重要的應用價值，能夠對電子元件內部的結構和失效機理進行深入的研究與分析。集成電路失效分析的核心任務是確定電路或芯片失效的根本原因，分析過程通常需要對芯片內部結構進行深入剖析。FIB雙束電鏡在這一過程中提供了許多重要的技術支持，具體應用如下：1、電路故障定位與剖析集成電路的故障通常由微小的物理損傷、連接斷裂、污染或過熱等原因引起。它能夠通過聚焦離子束對...

2025

7-13

sem掃描電鏡在微觀結構分析中的重要性

sem掃描電鏡是一種利用電子束掃描樣品表面，通過探測二次電子或反射電子的信號，生成高分辨率圖像的電子顯微鏡。與傳統的光學顯微鏡相比，它具有更高的放大倍率、更強的深度景深和更廣泛的應用領域，尤其在微觀結構分析中展現出巨大的優勢。sem掃描電鏡在微觀結構分析中的重要性，主要體現在以下幾個方面：1、高分辨率與細節呈現最大的優勢之一是其很高的分辨率，通常能夠達到納米級別，遠高于傳統光學顯微鏡的分辨率。通過掃描電子束，能夠呈現出樣品表面最細微的結構細節，例如微小的裂紋、孔隙、表面形貌、...

2025

7-11

電鏡應用|鋼中復雜氧化物-硫化物-氮化物夾雜物的自動化SEM- EDS分析與相分析案例

熔融鐵幾乎是一種通用溶劑，能夠輕松溶解鉻、鉬和鎢等金屬，從而制造各種有價值的合金。然而，這一特性也可能是一把雙刃劍，因為在將鐵煉成鋼的過程中，必須謹慎控制氧、硫和氮等元素。這些輕元素在合金鋼中的溶解度較低，在精煉和熱軋過程中，容易形成不利的反應產物（即夾雜物）。這些生成的氧化物、硫化物和氮化物的微小夾雜物無法通過簡單的浮選去除，從而成為最終鋼材的永久組成部分，影響其機械性能和質量。PART01背景簡介生產鋼材的過程中涉及極高的溫度和高度氧化的環境。高爐-氧氣轉爐一體化工藝和電...

2025

7-10

FEI掃描電鏡在納米材料表征中的應用

FEI掃描電鏡是一種廣泛應用于納米材料表征的重要工具。由于其高分辨率和精確的圖像能力，在納米尺度材料的表面形貌、結構以及其他物理化學性質的研究中發揮了重要作用。下面將詳細介紹FEI掃描電鏡在納米材料表征中的應用。一、高分辨率表征它利用電子束掃描樣品表面，能夠產生高分辨率的圖像，這對于研究納米材料的表面形貌和微觀結構至關重要。由于電子束的波長遠小于可見光，因此能夠清晰地觀察到納米尺度上的細節，如單個納米顆粒、納米管、納米線等。分辨率可以達到納米級，甚至亞納米級，這使得它能夠清晰...

2025

7-7

場發射掃描電鏡的原理與技術創新

場發射掃描電鏡是一種利用場發射技術來產生高亮度、穩定的電子束，用于觀察樣品表面形貌和成分的顯微分析儀器。它是掃描電鏡（SEM）的一種改進版本，具有高分辨率、高靈敏度以及高圖像質量的優勢。一、基本原理場發射掃描電鏡與傳統的掃描電鏡（SEM）原理相似，都是通過電子束掃描樣品表面并獲得二次電子、反射電子和X射線等信號來形成圖像。它使用的是場發射電子槍而非熱發射電子槍，這是其主要的區別。1、場發射電子槍它采用的是場發射電子槍（FEG），其原理是利用強電場從非常細的金屬針尖上拉出電子。...

2025

6-25

手持式合金分析儀在金屬制造業的應用與優勢

在金屬制造業中，手持式合金分析儀憑借其快速、準確、無損的特點，成為的檢測工具。應用方面：原材料檢驗：在原材料采購和入庫環節，手持式合金分析儀能夠快速檢測金屬材料的化學成分，確保原材料符合生產要求，避免因材料問題導致的生產延誤和成本增加。生產過程監控：在生產過程中，該儀器可實時監控金屬材料的成分變化，及時發現并調整生產工藝中的偏差，確保產品質量穩定。成品檢測：在成品出廠前，手持式合金分析儀可對產品進行最終的質量檢測，確保產品符合相關標準和客戶要求。優勢方面：快速檢測：手持式合金...

2025

6-19

便攜式合金分析儀的維護與保養

便攜式合金分析儀是工業檢測中常用的設備，可快速、準確地分析金屬材料的成分。為確保其性能穩定、延長使用壽命，需采取以下維護與保養措施：1.日常清潔檢測窗口清潔：檢測窗口是分析儀的核心部件，需保持清潔。每次使用后，用柔軟的無塵布輕輕擦拭，去除表面灰塵或污漬。避免使用尖銳物品刮擦，以防損壞窗口。外殼清潔：定期用濕布擦拭分析儀外殼，去除灰塵和污垢。避免使用強酸、強堿或有機溶劑，防止外殼腐蝕或褪色。2.定期校準標準樣品校準：按照儀器說明書的要求，定期使用標準樣品對分析儀進行校準，確保檢...

2025

6-14

鎢燈絲掃描電鏡的維護與保養技巧

鎢燈絲掃描電鏡是用于觀察微觀物體表面及其結構的高精度設備，其性能與穩定性在許多研究領域中至關重要。鎢燈絲作為電子槍的核心組件，其質量和使用狀態直接影響其工作效率和圖像質量。因此，正確的維護與保養尤為重要，下面是一些鎢燈絲掃描電鏡的維護與保養技巧。1、保持清潔環境工作時，電子槍會發射高能電子束，因此設備的清潔環境至關重要。為避免灰塵和污垢積聚，必須保持實驗室環境的清潔度。應置于通風良好、濕度適中的房間，避免高溫、潮濕或過于干燥的環境，這些因素可能導致鎢燈絲的提前老化。定期清理設...

2025

6-11

賽默飛掃描電鏡的技術原理與應用解析

賽默飛掃描電鏡是一種利用電子束掃描樣品表面并通過分析反射電子來獲取表面形貌、成分以及微觀結構信息的顯微鏡技術，廣泛應用于材料科學、生物醫學、納米技術等領域。一、技術原理賽默飛掃描電鏡的工作原理基于電子束與樣品相互作用的物理過程。當電子束打到樣品表面時，樣品會發生多種反應，包括彈性散射、非彈性散射、二次電子的發射、X射線的發射等。通過收集這些反射或發射的信號，能夠提供高分辨率的表面形貌和元素組成信息。二、應用領域賽默飛掃描電鏡在許多領域得到了廣泛的應用，特別是在材料科學、生命科...

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